Thorlabs 多模光纖跳線 弱自發熒光

特性

• 弱自發熒光*(AF)光纖跳線，具有纖芯?400 µm、數值孔徑0.50的多模光纖

• 非常適合具有GFP(激發波長470 nm)和RFP(激發波長565 nm)的光纖光度學應用

• 接頭選項：

• 帶樣品的一端為FC/PC接頭、?1.25 mm(LC)插芯或?2.5 mm(FC)插芯

• 不帶樣品的一端為FC/PC接頭

• 黑色護套zui大程度地減少光泄漏

• 跳線長度1 m

• 可根據要求定制跳線，詳情請聯系技術支持

這些多模光纖跳線采用可減少發出可見光波段自發熒光的元件制造，非常適用于光纖光度學應用。在這些應用中，需要高靈敏度來測量指示樣本內神經活動的熒光的變化。這些跳線的設計基于對裸纖、插芯類型和環氧樹脂等跳線組件自發熒光特性的廣泛研究。

每根跳線集成了纖芯?400 µm、數值孔徑0.50的多模光纖(型號FP400URT)，具有三種接頭配置。跳線的一端為FC/PC接頭，而另一端則為FC/PC接頭、?1.25 mm不銹鋼插芯或?2.5 mm不銹鋼插芯。與我們標準的光遺傳學光纖跳線相似，帶插芯端的跳線可以通過互連件或匹配套管接合光纖針頭。

每根跳線都帶有兩個保護帽，防止插芯端在不使用時受到灰塵污染或其他傷害。其他用于接頭和插芯端的塑料保護帽、金屬保護帽或螺紋保護帽都在這里單獨出售。如果使用過程中光纖終端受到污染，我們也提供檢查工具和光纖清潔用品。

光漂白

為了在實驗過程中獲得優良性能，弱自發熒光跳線在使用前應進行光漂白測試。該過程使光纖和跳線組件中的熒光團飽和，從而最大限度地減少自發熒光的發射。因為自發熒光最終會在光漂白后恢復到穩態值(如圖所示)，每次在實驗中使用跳線時都應重復此過程。有關所需設備和測試過程的更多信息，請看光漂白標簽。

在產品測試過程中，我們比較了弱自發熒光跳線與標準跳線的自發熒光恢復能力。右圖顯示了在36天的時間內測得的每個測試跳線相對于輸出功率的自發熒光。我們觀察到，弱自發熒光跳線經過光漂白后具有較低的自發熒光比率，并且在測試期間，自發熒光恢復較慢。

經過12小時的470 nm光漂白之后，弱自發熒光(AF)跳線和標準跳線的自發熒光恢復比較圖。使用舊款M470F3 LED進行激發，并測量525 nm下相對于跳線輸出功率的自發熒光強度

匹配套管和跳線兼容性
跳線和針頭的插芯直徑緊密關系到互連件和匹配套管的兼容性。使用?1.25 mm(LC)插芯的針頭和跳線可以通過ADAL1匹配套管或ADAL3互連件連接。使用?2.5 mm(FC)插芯的跳線和針頭兼容ADAF1匹配套管和ADAF2互連件。

*在470 nm和565 nm的激發波長下測試并驗證弱自發熒光。其他波長下激發時性能可能不同。

Thorlabs 多模光纖跳線 弱自發熒光

多模光纖跳線，弱自發熒光，纖芯?400 µm，數值孔徑0.50