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TECHNICAL ARTICLES改變你的觀察體驗——TMC主動隔振臺助力掃描電鏡探索科學的新紀元
2023-11-29 親愛的科學家和研究者們,你們是否曾經在使用掃描電鏡進行觀察時遇到以下問題?震動干擾導致圖像模糊不清,影響到你的研究結果和科學發現。如果是這樣,那么現在是時候引入主動隔振臺來改變你的觀察體驗了!TMC/SEM-Base®Ⅵ,用于SEM的主動式壓電陶瓷振動消除地面式平臺,作為一項*的技術,旨在顯著減少外界震動對掃描電鏡觀察的干擾。它采用了高靈敏度的低頻慣性速度傳感器,能夠實時感知和抵消來自地震、機械振動甚至人員動作帶來的震動,從而提供更穩定的工作環境。使用TMC/SEM-...公司郵箱: panyue@sourcescn.com
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